«Элемент» предложил создать ИИ-платформу для управления микроэлектроникой
ГК «Элемент» представила концепцию единого «цифрового контура микроэлектроники» – системы управления производством электронных компонентов с использованием технологий искусственного интеллекта. Инициатива была описана в презентации президента «Элемента» Олега Хазова к сессии «Цифровой контур микроэлектроники» на ЦИПР-2026 и недавно поступила на рассмотрение в Минпромторг России. «Ведомости» ознакомились с материалом.
Согласно материалам, проект предполагает формирование единой цифровой среды для управления процессами в отрасли микроэлектроники. Сейчас ведется предварительная проработка возможных подходов к реализации проекта, а также определяются его ключевые направления и механизмы внедрения. Предполагается, что в основе системы могут использоваться инструменты искусственного интеллекта для повышения эффективности производственных процессов и управления данными.
Применение ИИ в микроэлектронике соответствует мировым тенденциям развития отрасли. Технологии рассматриваются как инструмент для автоматизации проектирования, повышения качества продукции, анализа технологических параметров и оптимизации производственных циклов. Также допускается, что дальнейшая проработка инициативы может вестись совместно с отраслевыми индустриальными центрами компетенций. Одним из перспективных направлений называется создание цифровой инфраструктуры, способной объединить различные этапы разработки и выпуска электронной компонентной базы.
Развитие технологий искусственного интеллекта в российской микроэлектронике ведется уже сейчас по нескольким направлениям. В отрасли реализуются отдельные проекты, связанные с использованием ИИ в системах автоматизированного проектирования и вспомогательных инструментах для разработчиков. Наиболее широкое практическое применение на данный момент получили решения в области компьютерного зрения. Такие технологии используются для автоматизированной отбраковки продукции, инспекции изделий, контроля технологических операций и выявления дефектов на различных этапах производства.